Metalografi, Mikroskobi ve Malzeme Analiz Laboratuvarı

•  Mitutoyo SJ-500 Yüzey Pürüzlülük Cihazı                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                        

                Teknik Özellikler için tıklayınız

• Yüzey pürüzlülük ölçümü
• Sadece x ekseni yönü ardışık izleme
• X ekseni ölçüm uzunluğu max 50 mm
• Uygulanan ağırlık 2.7 kg.
• Hız aralığı 0 – 20 mm/s
• Analiz türleri; Alan, Daire, Açı, Koordinat farkı, Adım, Eğim
• Değerlendirme Parametreleri; Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr (c),δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, Δa, Δq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa, λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte.       

• Numune yüzeylerinin paralel olması.

• IVIUM Vertex.EIS.1A/10V 

          Teknik Özellikler için tıklayınız

• Korozyon Testi

Potansiyostat Özellikleri

• Uygulanan potansiyel aralığı 0.333mV, çözünürlük ±10V,
• Uygulanan potansiyel doğruluğu 2mV.
• Akım aralıkları 9 aşamada ±10nA den ±1A aralığındadır.
• Ölçülebilen akım çözünürlüğü %0,015 akım aralığında minimum 15pA dır.

Cihazın Galvonastat Özellikleri

• Uygulanan akım çözünürlüğü %0,033.
• Uygulanan akım doğruluğu %0,2.
• Potansiyel aralıkları ±10mV, ±100mV, ±1V, ±10V.
• Ölçülen potansiyel çözünürlüğü %0,004 

Sweep Teknikler

Transient Metodlar

Elektroanaliz Teknikleri

İmpedans Ölçümleri

Korozyon Ölçümleri

• ZEISS Axio Lab. A1 ters metal mikroskobu

          Teknik Özellikler için tıklayınız

• Tane boyutu sayımı ve dağılımı,
• Çoklu faz tespiti ve dağılımı,
• İnlukzon analizi,
• Karanlık alan,
• Aydınlık alan çalışmaları yapılabilmektedir.

• Hitachi SU3500 T2 Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

• Oxford XACT Elektron Dağılım Spektroskopisi (EDS)

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Demir ve demir dışı bulk/toz malzemeler, Seramik, kompozit, polimer vb. malzemelerin yüzey ve kesit görüntülemesi
• Boyut ve şekil karakterizasyonu
• Hasar analizleri
• 3 nm kadar mikroyapı görüntüleme
• İnklüzyon analizleri
• 3 nm çözünürlüğe kadar (numune uygunluğuna bağlı) inceleme ve analiz 
• Düşük vakum çalışmaları 

• Thermo Scientific, ARL 3460 OES  

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Elementel Analiz
• Kararlılık, düşük analiz limitler ve doğruluk.
• Ultra saftan yüksek alaşımlıya kadar bütün alüminyum alaşımları yüksek hassasiyette (1/100000) analiz edilebilmektedir.

• Temiz ve düz yüzeye sahip ve tel numuneler için minimum çap 3 mm olmalı.

• Shimadzu G21D      

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Metalik malzemeler, Kaplanmış malzemeler,  Isıl işlem görmüş yüzey ve kesitler, Seramikler için,
• 1 gr – 2000 gr yük hassasiyeti,
• Vickers ve Knoop yöntemleri ile sertlik ölçümü,
• Kırılma Tokluğu (Kc) hesaplanması.
• Numune kalınlığı 0,5 cm - 5 cm arası olmalıdır.

• Ernst AT250 Universal Sertlik Test Cihazı    

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• Alüminyum malzemelerin sertlik ölçümü
• Isıl işlem görmüş malzemelerde sertlik ölçümü
• Rockwell Ölçümleri: A-B-C skalaları, 60-100-150 kg yükleri ile yapılabilmektedir.
• Brinell Ölçümleri: HB5-HB10-HB30 skalaları, 62,5-125-187,5 yükleri ile yapılabilmektedir. 

• ALŞA 100kN Elektromekanik Cihaz

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• 0 – 14 mm ye kadar levha
• 0 – 16 mm’ye kadar dolu ve boş çubuk, (iç dolum aksesuarları olmak kaydıyla)
• 0 – 150 mm’ye kadar basma yüzeyi,
• 10 – 300 mm’ye kadar (mesnet açıklığı) yassı ürünlere 3 nokta eğme testi

Numune Özellikleri:

1. Çekme Testi için numuneler TS EN ISO 6892-1 standardına göre hazırlanmış olmalıdır.
2. Basma Testi için (Numune Yüksekliği = 1,5 x Numune Çapı) olmalıdır.

Discovery SDT 650 ile malzemelerin ağırlık değişimi ve ısı akışı eş zamanlı olarak sıcaklık ve/veya zamanın bir fonksiyonu olarak ölçülebilmektedir. Polimer, polimer kompozit malzemeler için nem, uçucu bileşenler ve katkı malzemesi miktarları belirlenebilmektedir.

• ​TA, Discovery SDT 650  

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• Ergime noktası
• Ağırlık değişimi
• Faz dönüşümü
• Isı kapasitesi (Cp) ölçümü (ortam sıcaklığı-1500 °C aralığında)
• Camsı geçiş, kristalizasyon, bozulma sıcaklığı
• Kül oranı ve katkı miktarı
• 1500 °C'ye ulaşabilen fırın sıcaklığı (Sıcaklık Kalibrasyonu Curie Noktası (ASTM E1582))
• Dinamik sıcaklık hassasiyeti ± 0,5 °C
• Isıtma hızı (doğrusal) 0,1 ila 100 °C/dakika
• Kalorimetrik doğruluk/hassasiyet ± %2 (metal standartlarına göre)
• Isı kapasitesi doğruluk ± %5
• Tartı doğruluğu ± %0,5
• Tartım Hassasiyeti ± %0,1
• Ağırlık Baz Çizgisi Kayması [1] <50 μg ila 1000 °C ve <50 μg 1000 ila 1500 °C
• Modüle DSC

Numune Özellikleri:

• Katı malzemelerden oluşur ve numune ağırlığı maksimum 200 mg olmalıdır.